欣崇絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng) SIR8000
時(shí)間：2024-09-29 15:31:33
SIR8000系列特點(diǎn)：
㈠ 靈活的、多通道分組測(cè)試能力 可根據(jù)測(cè)試不同的需求，建立多組測(cè)試模式，在1 - 4個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱里測(cè)試不同的樣品
㈡ 寬范圍的偏置電壓、測(cè)試電壓 測(cè)試電壓具有300V、500V、1000V三種規(guī)格，從1.0V - 1000V可任意設(shè)置，并可在試驗(yàn)中實(shí)現(xiàn)偏置電壓的正、負(fù)翻轉(zhuǎn)
㈢ 實(shí)時(shí)電流檢測(cè)能力 在試驗(yàn)過程中，高達(dá)10次/秒的微電流監(jiān)測(cè)模塊，可繪制通道中出現(xiàn)離子遷移過程的工作狀態(tài)，多用于材料分析
㈣ 多種絕緣阻值的閥值判定能力 具有多種絕緣阻值下降到設(shè)定閥值的判定條件，例如單次或多次低于絕緣電阻閥值，或超過低于閥值的時(shí)間，判定后斷開測(cè)試
㈤ 符合國(guó)際、行業(yè)內(nèi)有關(guān)絕緣電阻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求 IPC-TM-650 2.5.10 / 2.6.11/2.6.3.7/2.6.14 IEC-61189-5 IEC1086 ISO-9455-17等
㈥ 面向國(guó)內(nèi)客戶開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)軟件 充分滿足不同客戶的獨(dú)特測(cè)試要求，帶有數(shù)據(jù)分析功能， 使測(cè)試軟件使用更方便、更完善
產(chǎn)品應(yīng)用：
借助于專用夾具可實(shí)現(xiàn)對(duì)印制電路板、焊錫、焊劑、涂覆材料等，GBA、DSP等微間距圖形IC封裝、電阻器、連接器及其它電子器件及材料吸濕特性測(cè)試評(píng)估。
系統(tǒng)參數(shù)：
類型 | 300V | 500V | 1000V |
通道數(shù) | 128通道/256通道(可選) | ||
測(cè)試組數(shù) | 標(biāo)配：2~4組(64通道/組) 可選：32通道/組 | ||
工作時(shí)間 | 1~9999小時(shí) | ||
偏置電壓 | -100~+300VDC | -100~+500VDC | -100~+1000YDC |
極性反轉(zhuǎn) | 具備 | ||
共負(fù)極測(cè)試(可選) | 具備 | ||
CAF測(cè)試(可選) | 具備 | ||
測(cè)試電壓 | 1.0～99.9VDC(0.01V步進(jìn)) | 1.0～99.9VDC(0.01V步進(jìn)) | 1.0~99.9VDC(0.1V步進(jìn)) |
電壓上升階梯 | 50V()100V) | ||
測(cè)試電壓精度 | 士0.1V(1.0～99.9VDC) | ±0.1V(1.0～99.9VDC) | 士0.1V(1.0~99.9VDC) |
電阻測(cè)量范圍 | 1×10?~3×10°Q | 1×10～5×10Q | l×10~1x10?Q |
電阻測(cè)量精度 | 1×10°~1×10"Q≤±5.0% | 1×10～1×10"Q≤±5.0% | 1×10～1×10"Q≤±5.0% |
1×10°~1×10"Q≤±10% | 1×10°~1x10"Q≤±10% | 1x10°~1x10"≤±10% | |
1×10"～1x10"Q≤±15% | 1x10～1x10°Q≤±15% | 1×10～1x102Q≤±15% | |
1×10~1x10*2≤±20% | 1x10~1×10"Q≤±20% | 1x10～1×10"Q≤±20% | |
電阻測(cè)試速度 | 標(biāo)準(zhǔn)模式3 . 5秒/通道(典型) | ||
實(shí)時(shí)電流監(jiān)測(cè)范圍 | 0.1μA~500μA | ||
實(shí)時(shí)電流檢測(cè)速度 | 10次/通道 | ||
測(cè)試間隔時(shí)間 | 5分鐘-600分鐘 | ||
測(cè)試電壓穩(wěn)定時(shí)間 | 1秒鐘～600秒鐘 | ||
限流保護(hù)電阻 | 1MQ | ||
測(cè)試電纜 | 特氟綸(≥10?Q,200℃) | ||
UPS保護(hù)時(shí)間 | 30分鐘 | ||
外形尺寸 | 1800X600×1000(mm)(高×寬X深) | ||
設(shè)備凈重 | 約280kg | 約280kg | 約350kg |
供電電壓 | 交流220V±10%,50Hz | ||
掃一掃關(guān)注我們